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首頁-譜標服務-光譜儀(yi) 發射光譜分析法有哪幾種?

光譜儀發射光譜分析法有哪幾種?

發布時間:2022-05-10       點擊次數:7928

發射光譜分析法通過測量物質發射光譜的波長和強度來進行定性、定量分析的方法叫做發射光譜法,特征光譜強度進行定量分析的分析方法。

質通過電致激發、熱致激發或光致激發等過程獲取能量,變成為(wei) 激發態的原子或O子(M。),激發態的原子或分子是極為(wei) 不穩定的,它們(men) 可能以不同形式釋放出能量激發態躍遷至基態或低能態,如果這種躍遷是以輻射形式釋放多餘(yu) 的能量就產(chan) 生發射譜AV+I<-。

光譜儀(yi) 依據光譜區域和激發方式不同,發射光譜有以下幾種。

1)Y射線光譜分析法。天然或人工放射性物質的原子核在衰變過程:和p粒子後,往往自身的核激發,然後該核通過發射了射線回到基態。測量這種特征Y射線的能量(或波長),可以進行定性分析;測量7射線的強度,可以進行定量分析。

2) X射線熒光分析法。原子受高能輻射激發,其內(nei) 層電子能級躍遷,即發射出特三磕x射線熒光是最常的方法。測量X射線的能量(或波長)可以進行定性分析,測量其強度可以進行定分析。

3)原子發射光譜分析法。用火焰、電弧、等離子炬等作為(wei) 激發源,使氣態原子或離子的外層電子受激發發射特征光學光譜,利用這種光譜進行分析的方法叫做原子發射光譜分析法。波長範圍為(wei) 190~900nm,可用於(yu) 定性和定量分析。

4)原子熒光分析法。氣態自由原子吸收特征波長的輻射後,原子的外層電子從(cong) 基或低能態躍遷到高能態,約經10-8 S,又躍遷至基態或低能態,同時發射出與(yu) 原激發長相同或不同的輻射,稱為(wei) 原子熒光。波長在紫外和可見光區。在與(yu) 激發光源成一定角度(通常為(wei) 90。)的方向測量熒光的強度,可以進行定量分析。

5)分子熒光分析法。某些物質被紫外光照射後,物質分子吸收了輻射而成為(wei) 激發態分子,然後在回到基態的過程中發射出比入射光波長更長的熒光。測量熒光的強度進分析的方法稱為(wei) 熒光分析法。波長在光學光譜區。

6)分子磷光分析法。物質吸收光能後,基態分子中的一個(ge) 電子被激發躍遷至第一激發單重態軌道,由第一激發單重態的最低能級,經係統間交叉躍遷至第一激發三重態,並經過振動弛豫至最低振動能級,由此激發態躍回至基態時,便發射磷光。根據磷強度進行分析的方法稱為(wei) 磷光分析法。它主要用於(yu) 環境分析、藥物研究等方麵的有機合物的測定。

7)化學發光分析法。由化學反應提供足夠的能量,使其中一種反應產(chan) 物的分子的電子被激發,形成激發態分子。激發態分子躍回基態時,就發出一定波長的光。其發光強度隨時間變化,並可得到較強的發光(峰值)。在合適的條件下,峰值與(yu) 被分析物濃度成線性關(guan) 係,可用於(yu) 定量分析。由於(yu) 化學發光反應類型不同,發射光譜範圍為(wei) 400-1400nm。

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