安捷倫(lun) Agilent 5800 ICP-OES通過利用氙氣的等離子體(ti) 激發元素並獲得元素特征譜線，然後通過分光係統和檢測器對這些特征譜線進行分辨和測量，從(cong) 而實現樣品中多種元素的定性和定量分析。由於(yu) 元素會(hui) 有多條發射譜線，可能會(hui) 與(yu) 其他元素產(chan) 生幹擾或重疊，因此需要進行幹擾校正以提高分析的準確性。